老化測試

   半導(dǎo)體的老化測試過程基本上模擬運(yùn)行了芯片整個壽命，可以用來作為器件可靠性的檢測或作為生產(chǎn)窗口來發(fā)現(xiàn)器件的早期故障。傳統(tǒng)的方法是采用電阻進(jìn)行能耗放電，這一方面會消耗大量的電能，另一方面會大大增加輸配電設(shè)備的容量，同時釋放的熱量會增加空調(diào)的負(fù)擔(dān)。通常而言，負(fù)載具有負(fù)效率特性、影響了工作環(huán)境質(zhì)量和電力開銷。其中最大的問題就是電量的浪費(fèi)。比如，一個典型的100路800W的老化測試系統(tǒng)就要消耗超過80KW才能夠提供測試功能。

   IT-M3300系列小功率回饋式直流電子負(fù)載很好的填補(bǔ)了這一產(chǎn)品空白，既能模擬各種負(fù)載特性，又能將電能無污染的回饋電網(wǎng)，?U的體積內(nèi)可提供高達(dá)800W的功率吸收。

特性測試

   IT-M3200高精度直流電源的電流最大可達(dá)10A，分辨率可達(dá)10nA，可以滿足用戶更多IC測試需求。另外， IT9100系列功率分析儀可代替電流表，來完成測試。

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